納米顆粒粒徑檢測篩分法：篩分法測定粒徑時(shí)，按照被測試樣的粒徑大小及分布范圍，將大小不同篩孔的篩子疊放在一起進(jìn)行篩分，收集各個篩子的篩余量，稱量求得被測試樣以重量計(jì)的顆粒粒徑分布。篩分法適于粒度≥30μm的粉體。測定時(shí)取一定量的粉料通過篩子，測定篩余量(即通不過的粉料量)占總重量的百分率，篩余越多，說明粉料顆粒愈粗。不同產(chǎn)品有不同的篩余量。其中重要的參數(shù)是篩分直徑(顆粒能夠通過的最小方篩孔的寬度)和篩孔的大小，用目表示每一英寸長度上篩孔的個數(shù)。
 

　　納米顆粒粒徑檢測光阻法：當(dāng)顆粒通過光束時(shí)，部分光被擋住，引起光電檢測器信號變化，該信號脈沖的個數(shù)對應(yīng)于顆粒的個數(shù)，而脈沖的面積對應(yīng)于顆粒的大小。樣品需稀釋到極低濃度，測量結(jié)果取決于校準(zhǔn)。
 

　　納米顆粒粒徑檢測動態(tài)光散射法：當(dāng)顆粒粒度小于光波波長時(shí)，由瑞利散射理論，散射光相對強(qiáng)度的角分布與粒子大小無關(guān)，不能夠通過對散射光強(qiáng)度的空間分布(即上述的靜態(tài)光散射法)來確定顆粒粒度，動態(tài)光散射正好彌補(bǔ)了在這一粒度范圍其他光散射測量手段的不足，原理是當(dāng)光束通過產(chǎn)生布朗運(yùn)動的顆粒時(shí)，會散射出一定頻移的散射光，散射光在空間某點(diǎn)形成干涉，該點(diǎn)光強(qiáng)的時(shí)間相關(guān)函數(shù)的衰減與顆粒粒度大小有一一對應(yīng)的關(guān)系。通過檢測散射光的光強(qiáng)隨時(shí)間變化，并進(jìn)行相關(guān)運(yùn)算可以得出顆粒粒度大小。盡管如此，動態(tài)光散射獲得的是顆粒的平均粒徑，難以得出粒徑分布參數(shù)。動態(tài)光散射法適于測定亞微米級顆粒。